-
1 drop-in
-
2 test chip
-
3 test chip
The English-Russian dictionary on reliability and quality control > test chip
-
4 process-development chip
English-Russian big polytechnic dictionary > process-development chip
-
5 process-development chip
English-Russian dictionary of microelectronics > process-development chip
-
6 process-validation chip
English-Russian dictionary of microelectronics > process-validation chip
-
7 drop-in
['drɒpˌɪn]1) Общая лексика: вечеринка, всегда открытое прибежище (о ресторане, клубе), встреча без особых приглашений, дом, куда всегда можно забежать без приглашения, зайти на огонёк, случайный гость, приют, убежище, вольнослушатель, заглядывающий время от времени, нежданный гость, случайный посетитель2) Военный термин: заскакивание (собачки, штифта)3) Техника: вхождение в синхронизм, заскакивание, ложный сигнал (в звукозаписи)4) Кино: вставка5) Музыка: появление сигнала помехи6) Телекоммуникации: вставка паразитного сигнала в полезный7) Вычислительная техника: вклинивание сигнала, появление ложного сигнала, появление ложных знаков или разрядов, появление ложных разрядов (при записи или считывании), появление ложных знаков (при записи или считывании)8) Бытовая техника: ложный сигнал воспроизведения9) Микроэлектроника: тестовая структура, тестовый кристалл10) Сетевые технологии: вклинивание разрядов -
8 process-development chip
Универсальный англо-русский словарь > process-development chip
-
9 process-validation chip
Микроэлектроника: тестовый кристалл для контроля технологического процессаУниверсальный англо-русский словарь > process-validation chip
-
10 test chip
Микроэлектроника: тестовый кристалл -
11 chip
1. обломок; отбитый кусок || откалываться; отламываться; разбиваться2. pl отбросы; брак; продукты износа деталей3. (тестовый) кристаллThe English-Russian dictionary on reliability and quality control > chip
-
12 drop-in
1. введение тестовой структуры2. тестовая структура; тестовый кристалл (в полупроводниковой пластине)The English-Russian dictionary on reliability and quality control > drop-in
См. также в других словарях:
тестовый кристалл ИС — bandomasis lustas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. test chip vok. Testchip, n rus. тестовый кристалл ИС, m pranc. puce de test, f … Radioelektronikos terminų žodynas
тестовый кристалл ИС для разработки технологии — technologijos tikrinimo lustas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. process development chip vok. Testchip zur Durchführung der Prozeßkontrolle, n rus. тестовый кристалл ИС для разработки технологии, m pranc. puce de test pour… … Radioelektronikos terminų žodynas
Testchip — bandomasis lustas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. test chip vok. Testchip, n rus. тестовый кристалл ИС, m pranc. puce de test, f … Radioelektronikos terminų žodynas
bandomasis lustas — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. test chip vok. Testchip, n rus. тестовый кристалл ИС, m pranc. puce de test, f … Radioelektronikos terminų žodynas
puce de test — bandomasis lustas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. test chip vok. Testchip, n rus. тестовый кристалл ИС, m pranc. puce de test, f … Radioelektronikos terminų žodynas
test chip — bandomasis lustas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. test chip vok. Testchip, n rus. тестовый кристалл ИС, m pranc. puce de test, f … Radioelektronikos terminų žodynas
Testchip zur Durchführung der Prozeßkontrolle — technologijos tikrinimo lustas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. process development chip vok. Testchip zur Durchführung der Prozeßkontrolle, n rus. тестовый кристалл ИС для разработки технологии, m pranc. puce de test pour… … Radioelektronikos terminų žodynas
process-development chip — technologijos tikrinimo lustas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. process development chip vok. Testchip zur Durchführung der Prozeßkontrolle, n rus. тестовый кристалл ИС для разработки технологии, m pranc. puce de test pour… … Radioelektronikos terminų žodynas
puce de test pour conception du processus — technologijos tikrinimo lustas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. process development chip vok. Testchip zur Durchführung der Prozeßkontrolle, n rus. тестовый кристалл ИС для разработки технологии, m pranc. puce de test pour… … Radioelektronikos terminų žodynas
technologijos tikrinimo lustas — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. process development chip vok. Testchip zur Durchführung der Prozeßkontrolle, n rus. тестовый кристалл ИС для разработки технологии, m pranc. puce de test pour conception du processus, f … Radioelektronikos terminų žodynas
Дискавери STS-91 — п· Полётные данные корабля Название корабля Дискавери Стартовая площадка КЦ Кеннеди, СП 39 А[1] … Википедия
